技术文章您的位置:网站首页 >技术文章 > 半导体热电特性综合实验仪恒流源:0--1000uA
半导体热电特性综合实验仪恒流源:0--1000uA
更新时间:2023-11-14   点击次数:250次

实验内容:(1)热电制冷器工作特性研究;(2)半导体热电材料的珀尔帖效应进行制冷或制热特性;(3)塞贝克效应;(4)半导体热敏电阻特性的研究;(5)金属电阻温度系数的测定;(6)PN结正向压降与温度关系的研究和应用;(7)电阻温度计与非平衡直流电桥。
高精度数字智能化恒温控制,温度控制范围:加热范围:室温--120℃;致冷范围:-10℃--15℃. 控温精度:0.1℃,恒温稳定度:±0.1℃
数字温度传感器:-50-125℃,精度±0.1℃,数显
恒流源:0--1000uA
恒压源:0—15V
配PN结
配半导体热敏电阻

JKN-WHII材料与器件温度特性综合实验仪

实验项目:
金属材料热膨胀系数的测量
金属材料温差电势的研究
金属电阻温度系数的测量
PN结正向压降的研究
热敏电阻的温度特性的研究
集成温度传感器温度特性的研究
数字温度计的设计(设计性实验)
温控范围:50.0--120.0℃任意选择,数显.恒温波动小于0.1℃
电压输出:±12V, 0.5A
恒流源输出:50uA、100uA,二档

JKN-SM1固体密度研究实验仪

电阻应变式荷重传感器基本特性的研究
设计固体密度测量方法
传感器工作电源:6--12V 连续可调 三位半数显
直流电压测量范围:0--199.9mv,0--19.99V 双量程三位半数显
运算放大器实验模板,放大倍数连续可调
直流电压输出:±12V.  0.5A

分享到:

返回列表返回顶部
华力争(天津)电子科技有限公司  版权所有  网站地图    津ICP备17005759号-2   技术支持:化工仪器网

地址:天津市津南区八里台

津公网安备 12011202000493号